Laney U' 控制图
概述
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Laney U' 控制图类似于传统 U 控制图。这两种控制图都有助于监控您的过程产生的每单位缺陷数。Laney U' 控制图在以下情况下很有用:

·    您有较大的子组,并且数据表现出过度离散

过度离散会导致传统 U 控制图上的点看起来似乎要失控,而实际上并非如此。对于 Laney U' 控制图,常见原因变异的定义不仅包含子组内变异,还包含连续的子组之间的平均变异。如果存在过度离散情况,则 Laney U' 控制图上的控制限制比传统 U 控制图的控制限制更宽。更宽的控制限制意味着只将过程中的重大偏差识别为失控。

·    您的数据表现出欠离散

欠离散会出现在任何大小的子组中,通常由缺乏随机性导致。欠离散会导致数据的控制限制太宽。通过计算更窄的控制限制,Laney U' 控制图可以更正欠离散问题。

您可以使用 U 控制图诊断来检验过度离散和欠离散情况。

Laney U' 控制图的计算包括西格玛 Z,这是用于过度离散或欠离散的调整系数。西格玛 Z 值等于 1 时,指示不需要进行任何调整,因而 Laney U' 控制图与传统 U 控制图完全一样。

有关 Laney U' 控制图的详细介绍,请参见 [8]

对话框项

变量:输入包含每个子组的缺陷数的列。

子组大小:输入数字或包含子组大小的列。如果子组大小不等,则每个控制限制都不是一条直线,而是会随子组大小的改变而改变。如果子组大小变化不大,则您可以设置恒定的子组大小,以便控制限制保持恒定不变。要为您的控制图设置恒定的子组大小,可以使用 U' 控制图选项 > 限制

<尺度>

<标签>

<多图形>

<数据选项>

<U' 控制图选项>