测量系统变异

与测量过程相关的所有变异。变异的可能来源包括量具、标准、过程、软件、环境因素等等。

当测量某个过程的输出时,既要考虑部件间的变异,又要考虑测量系统变异。例如,您有一个刚好为 5.00 克的已知标准。经过多次称重后获得了以下读数:5.01 克、4.99 克、4.97 克、5.03 克 和 5.01 克。这些测量值之间的差异是由测量系统变异造成的。但是,如果您称量来自生产线上的不同部件,则所出现的差异是由于测量系统变异导致的呢还是由于部件本身的实际差异导致的?使用 Minitab 的测量系统分析工具可以确定变异的来源。如果测量系统变异大于部件间变异,则测量值可能无法提供有用的信息。

与任何其他过程一样,测量系统既有常见原因的变异,也有特殊原因的变异。要控制测量系统变异,必须首先识别变异的来源,然后必须排除或减少这些多种多样的原因。