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楼主: 童童会长

半导体封装的可靠性问题

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发表于 2021-8-2 17:32:13 | 显示全部楼层
Micro sd因为不涉及到SMT或温度骤变的环境,个人觉得不需要考虑MSL。如果因为环境剖面涉及到这块,可以对样品做潮敏器件定级试验,这个是有标准的,请参考《IPC/JEDEC J-STD-020E》
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发表于 2021-8-9 09:43:48 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

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发表于 2023-6-2 20:41:21 | 显示全部楼层
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发表于 2024-1-3 11:05:38 | 显示全部楼层
卓尔游侠 发表于 2020-2-19 12:50
IC封装流程一般都会有除湿工序,  湿度影响会出现进行性的不良~

谢谢分享

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发表于 3 天前 | 显示全部楼层
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