测量直方图包括下列各项：

·    直方图上叠加的组间/组内和整体曲线。B/W（组间/组内）曲线和整体曲线是使用过程均值和不同方差的正态密度函数。B/W 曲线使用组间/组内方差，整体曲线使用整体样本方差。

可通过将曲线与条形相比较来评估数据的正态性。正态分布是对称的且为钟形。如果样本数量很小，那么使用直方图来评估正态性可能会有困难。

检查曲线，看看它们之间的距离有多近。B/W 曲线和整体曲线之间的显著差异可能表明过程不受控制。

·    目标、规格下限和规格上限（LSL 和 USL），由直方图上的垂直虚线表示。使用这些线来评估测量值是否位于目标中心并且在规格限制之内。

对于涂层数据：

·    涂层数据近乎正态。

·    B/W 曲线和整体曲线相互紧密对齐。

·    过程几乎位于目标中心，测量值在规格区间之内。