将二元响应格式更改为事件/试验格式
二元响应格式的数据能够给出有关数据收集顺序的最多详细信息。当每行包含单个试验的有序结果时，则这些数据的结果最多。
但是，二元响应格式的数据无法显示残差与拟合值图的参考性模式。如果数据在模型中对预测变量的组合进行了多次试验，则可以更改数据格式，以便生成有意义的残差与拟合值图。残差与拟合值图可以帮助您评估模型拟合以及链接函数的适当性。如果数据未对预测变量的组合进行多次试验，残差与拟合值图仍将没有参考价值。
1. 如果响应列不包含 0 和 1，请使用数据 > 代码创建新的 0 和 1 响应列。使用 1 表示事件。
2. 选择统计 > 基本统计 > 存储描述性统计量。
3. 在变量中，输入响应列。
4. 在按变量中，输入模型中的预测变量。
3. 单击统计量。
5. 检查总和和 N 非缺失。
6. 单击确定。
7. 单击选项。
8. 取消选中包含空单元格。
9. 在每个对话框中单击确定。
“总和”列包含事件数，N 列包含试验数。“按变量”包含预测变量。
1. 选择统计 > 基本统计 > 存储描述性统计量。
2. 在变量中，输入频率列。
3. 在按变量中，输入模型中的预测变量和响应变量。
4. 单击统计量。
5. 单击总和。
6. 单击确定。
7. 单击选项。
8. 取消选中包含空单元格。
9. 在每个对话框中单击确定。
10. 按 CTRL + E 重新打开存储描述性统计量。
11. 在变量中，输入频率列中包含总和的列，例如，总和 1。
12. 在按变量中，输入包含响应值且按变量存储的列，例如按变量 1。
13. 单击确定。
第一个“总和”列包含事件数，第二个“总和”列包含试验数。“按变量”包含预测变量。