品质论坛 › GJB9001C › 求IEC 60749-20-1:2019 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20-1

pipahuang 发表于 2025-5-2 11:35:39

{:1_180:}{:1_180:}{:1_180:}{:1_180:}{:1_180:}

kellyz 发表于 2025-5-2 11:40:56

谢谢分享

zzjazmy 发表于 2025-5-2 22:14:48

{:1_180:}

查看完整版本: 求IEC 60749-20-1:2019 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20-1