测量系统的偏倚、线性和稳定性
测量系统的偏倚、线性和稳定性1.测量系统的偏倚
对相同测量对象的同一特性进行多次测量，测量结果形成一个分布（通常为正态分布）,偏倚是指多次测量的理论上的平均值μ与其参考值Vr之间的差异。
参考值的主要来源： 多个准确测量设备所得重复测量值的平均值、专业团队认可的值、当事方达成一致的值或法律规定的值。
例：一家公司的质检部门新购买一台测厚仪，在正式使用之前，需要对此测量系统进行评估。根据实际需要的量程范围，挑选了5个具有代表性的标准部件，然后由质检员以随机方式对每个部件测量6次。 假设已知过程总波动PV（即6倍的过程标准差）为12。试分析其偏倚和线性。
2.测量系统的线性
指在测量系统预期的量程范围内各点处的偏倚与参考值呈现线性关系，在数学上表现为偏倚对应参考值的线性回归关系。
测量系统最好是在任何一处都不存在偏倚，但如果知道在某点处的偏倚，或在整个测量系统内有共同的偏倚，则可进行修正。如果测量系统有偏倚，但又不存在线性关系，则无法处理。
通常用线性度衡量某个量程的偏倚的总体变化程度。其量纲与 Y量纲相同。
Linearity=|b|*PV
代表过程总波动范围内测量值偏倚的波动范围。线性度也可以用百分比的形式表示：
%Linearity=(Linearity/PV)*100=|b|*100
3.测量系统的稳定性
稳定性通常是指某个系统其计量特性随时间保持恒定的能力。
对于任何一个质量特性而言，具有稳定性是指分布不随时间变化，其平均值、标准差以及分布的形状等都不随时间变化。通常用 Xbar-R图或Xbar-S控制图进行分析测量系统的稳定性。
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