yifan99 发表于 2025-1-5 15:30:54

学习

980902 发表于 2025-3-4 14:26:51

{:1_180:}

cy123456 发表于 2025-3-7 10:25:34

学习

980902 发表于 2025-3-10 09:24:29

{:1_180:}

caiyc21 发表于 2025-3-26 15:43:06

感谢分享

lavinhaim2099 发表于 2025-7-9 17:06:57

有一个制样的方式是用激光把外表面的塑料打掉，漏出里面的金属，这个设备叫啥忘记了，当时分析的是IGBT时效

马啸西风 发表于 2025-7-10 16:31:30

附件呢

W12138 发表于 昨天 10:08

感谢分享{:1_180:}{:1_180:}{:1_180:}

bandager 发表于 昨天 20:25

谢谢分享

strong_909 发表于 3 小时前


感谢分享
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查看完整版本: 电子元器件失效模式和常用失效分析方法