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芯片可靠性测试

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精华

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发表于 2025-12-2 14:51:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
请教一下,你们的芯片产品的可靠性认证测试都是按照3lOTS*77units的标准做的吗,谢谢
1. 问答、交流探讨的帖子,回帖时,请不要发纯表情等无价值回帖,无意义,太多了影响用户体验,经常这样账号会被扣分甚至禁号的;
2. 品质协会是个学习、交流分享的平台,所有资料和内容归作者和版权方所有,需要正版标准、资料的请去相关的官方网站等平台购买;
3. 汇聚品质人,分享交流,互相学习,夯实基础知识,提升个人综合能力,进而会有更多的机会和可能性,这才是品质协会的真正价值。

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精华

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发表于 2025-12-2 20:57:14 | 显示全部楼层
不同的测试项目对取样要求不一样,不同领域也会有差异

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精华

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发表于 2025-12-3 09:14:54 | 显示全部楼层
可靠性工程是不是除了可靠性工程以外,还要另外学很多的标准才行?

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精华

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发表于 2025-12-3 14:24:38 | 显示全部楼层
大部分是,少部分不是,比如PTC和IOL这些是45颗,去看AECQ和JEDEC标准
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