请教存储芯片的软失效测试方法，谢谢！

chlyan · 发表于 2025-12-16 15:07:30

软失效测试方法，请教存储芯片的软失效测试方法，谢谢！

camelzcc · 发表于 2025-12-17 09:31:12

mark一下

sunjj · 发表于 2025-12-17 11:54:03

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

IEC60749-38-2008.pdf (1.01 MB, 下载次数: 11)

sunjj · 发表于 2025-12-17 16:42:08

GB-T4937.38-20XX 半导体器件机械和气候试验方法第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

chlyan · 发表于 2025-12-18 08:50:16

sunjj 发表于 2025-12-17 11:54
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for ...

谢谢

chlyan · 发表于 2025-12-18 08:50:32

sunjj 发表于 2025-12-17 16:42
GB-T4937.38-20XX 半导体器件机械和气候试验方法第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
...

谢谢

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