形位公差过程能力算法

平凡人生 · 发表于 2026-6-2 15:10:46

形位公差如平面度，平行度，位置度等需要进行过程能力监控，以哪种方式计算CPK、PPK值，才可以更有效的反应出当前的过程处于受控状态，是否有SPC的表单可以输入测量值？

gj10240402 · 发表于 2026-6-3 07:41:36

编！

sun-ch秋枫 · 发表于 2026-6-3 08:16:51

可以参考SPC的要求，采用适用的计划方式监视相关过程能力

zenghuan555 · 发表于 2026-6-3 08:29:55

感谢分享

fanyi888 · 发表于 2026-6-3 11:18:09

学习

gxs7070 · 发表于 2026-6-3 11:20:11

gxs7070 · 发表于 2026-6-4 08:13:21

gxs7070 · 发表于 2026-6-4 08:13:57

likecola · 发表于 2026-6-4 10:38:38

这个算法分享很有价值！形位公差的CPK计算一直是难点，特别是不同形状公差带的处理方式差异很大。我们之前在计算平面度的过程能力时，就是用错了公式导致CPK虚高，后来发现应该用单向分布来处理才准确。建议楼主可以再补充一下针对圆度、圆柱度这类非双向公差的处理方法，实际工作中这些更常见。

chushao · 发表于 2026-6-4 17:41:21

形位公差算ppk就好了，cpk想都别去想，实在想先转换。

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