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IEC 63287-2:2023 半导体可靠性评估指南.pdf

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发表于 2025-1-3 13:25:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

IEC 63287-2:2023 《Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile》半导体可靠性评估指南, 英文版，有需要的请下载。

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