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请教半导体可靠性实验

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发表于 2018-8-8 10:44:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
如果半导体其中一个参数异常,我应该如何选择做哪个可靠性,有相关文件
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发表于 2018-8-8 17:02:00 | 显示全部楼层
具体点呢

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 楼主| 发表于 2018-8-9 08:09:53 | 显示全部楼层
比如我想验证产品焊球是否有问题,我可以选择做TC;那其余的呢,我的意思是有没有什么文件是对实验目的做介绍的,比如HAST的目的是什么

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发表于 2018-8-9 08:43:09 | 显示全部楼层
我记得注册可靠性工程师的那本书里有讲到各种可靠性试验的验证目的

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 楼主| 发表于 2018-8-10 08:21:34 | 显示全部楼层
我回头找找看,书买过来一直没看{:1_88:}
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