AEC_Q100_Rev_J_Base_August 11, 2023_Document

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这是一份 AEC-Q100 Rev J（2023年8月11日） 标准文档，全称为《汽车应用集成电路基于失效机理的应力测试认证》。它由 汽车电子委员会（AEC）组件技术委员会 制定，是车规级集成电路（IC）可靠性认证的核心规范之一。

核心目的：规定汽车 IC 的最低应力测试认证要求、测试条件和接受准则，通过加速应力测试诱发并暴露芯片/封装的潜在失效机理，证明器件在汽车应用中具有足够质量与可靠性。它服务于“零缺陷”目标，并引用 AEC-Q001/Q002/Q003/Q004/Q005/Q006 等配套文件。

主要内容：

• 通用要求：温度等级 0～3、样品/批次要求、通用数据使用、失效定义、用户批准等。
• 认证与再认证：新器件认证、变更器件再认证、制程变更通知、通过准则、无铅器件、铜线互连器件等。
• 认证测试（表2）：分为 A～G 测试组：
  • A：加速环境应力（PC、THB/HAST、AC/UHST/TH、TC、PTC、HTSL）
  • B：加速寿命模拟（HTOL、ELFR、EDR）
  • C：封装组装完整性（WBS/WBP、SD、PD、SBS、LI、BST）
  • D：晶圆制造可靠性（EM、TDDB、HCI、BTI、SM）
  • E：电气验证（参数、ESD HBM/CDM、LU、ED、故障分级、EMC、SER、Pb-free 等）
  • F：缺陷筛查（PAT、SBA）
  • G：腔体封装完整性（机械冲击、振动、加速度、泄漏等）
    
    
• 附录：产品认证家族定义、通用数据使用示例、设计/构造/认证证书模板、开封与键合测试指南、认证计划/结果模板、EMC/SER 判定准则、Mission Profile 评估方法等。
  
  

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